Standardowa metoda wykrywania detektów powłoki polega obecnie na ocenie wizualnej. Porównanie wielu próbek jest jednak czasochłonne, a ocena ma charakter subiektywny. Powstała właśnie technologia pozwoli zmierzyć defekty powłoki szybko i w sposób bardziej precyzyjny.
Eksperci Evonik opracowali nowe narzędzie do analizy cyfrowej powlekanych próbek: COATINO® Defect Detection (CDD). Pozwala ono na precyzyjne wykrycie i ocenę defektów powłoki – w ciągu zaledwie kilku sekund.
Więcej czasu na ważniejsze zadania
Dotychczas defekty powłoki wykrywane były standardowo na podstawie oceny wizualnej próbek. Był to jednak proces czasochłonny i żmudny, zwłaszcza w przypadku większych serii testowych. Jak wyjaśnia Oliver Kröhl, dyrektor oddziału Strategic Business Development w dziale Coating Additives Evonik:
COATINO® Defect Detection upraszcza codzienne procedury laboratoryjne naszych klientów i pozwala im zająć się ważniejszymi zadaniami. Do tego nasza technologia cyfrowa dostarcza obiektywne i powtarzalne wyniki. Oznacza to, że ocena próbek nie zależy już od subiektywnego postrzegania pracowników laboratorium.
Próbki są fotografowane przy pomocy aparatu podłączonego do komputera. Następnie na podstawie innowacyjnych metod rozpoznawania obrazu w ciągu kilku sekund przeprowadzana jest ich ocena. Defekty wykrywane są z dokładnością na poziomie dziesiętnych części procenta. Na podstawie otrzymanych wyników można wybrać najlepszą formułę dla danego zastosowania.
Technologia będzie rozwijana
Narzędzie powstało z myślą o pigmentowanych systemach powłokowych dla architektury. Dla formuł z dodatkiem odpieniaczy pozwala zmierzyć takie efekty jak mikro- i makropiana, kraterowanie i niekompatybilność. Twórcy zamierzają w najbliższym czasie dostosować technologię do potrzeb innych branż oraz pod kątem innych rodzajów defektów.
Źródło: Evonik