Do sprzedaży trafił nowy spektrofotometr, który umożliwia pomiar koloru także na bardzo małych elementach o nietypowym kształcie. Ułatwia tym samym kontrolę jakości luksusowych dóbr czy elektroniki konsumenckiej.
Firma X-Rite ogłosiła wprowadzenie na rynek nowego spektrofotometru CiF3200. Jest on przeznaczony do pomiaru koloru niewielkich, wielobarwnych obiektów o nietypowym kształcie i silnie odbijających powierzchniach.
Odpowiedź na potrzeby branży
Dzięki minimalnemu obszarowi pomiaru na poziomie 2 mm spektrofotometr CiF3200 pozwala producentom wprowadzić nowe standardy cyfrowego pomiaru koloru. Jak komentuje Dave Visnovsky, dyrektor ds. produktu w X-Rite:
CiF3200 to nasza odpowiedź na unikatową potrzebę ze strony branży – jak w powtarzalny sposób mierzyć kolor na małych elementach o nietypowym kształcie. Dzięki połączeniu zaawansowanego celowania i obrazowania z technologią pomiaru sferycznego oraz aperturą na poziomie zaledwie 2 mm, nowe urządzenie umożliwia klientom digitalizację standardów i usprawnienie kontroli jakości.
Za sprawą wymienionych udoskonaleń nowy sprzęt zapewnia szybki i wiarygodny pomiar. Idealnie sprawdzi się tam, gdzie wymagana jest dokładność i powtarzalność – choćby w przypadku dóbr luksusowych, elektroniki konsumenckiej czy części z tworzyw sztucznych.
Kontrola jakości elementów metalicznych
Sferyczny spektrofotometr CiF3200 umożliwia pomiar blasku, istotny z punktu widzenia kontroli jakości na metalach i materiałach wykazujących różnice w związku z wykończeniem lub odbiciem metalicznym. Umożliwia tym samym choćby utrzymanie kolorystyki luksusowych zegarków.
Źródło: X-Rite
